고해상도 전계방출 주사전자현미경(FE-SEM)과 FIB를 하나의 시스템으로 통합하여 관찰과 가공을 동시에 수행할 수 있습니다. 0.9nm급 분해능으로 미세 구조를 정밀하게 분석합니다.
고안정성 Gallium 이온 소스를 적용하여 장시간 작업 시에도 균일한 빔 성능을 유지합니다. 정밀 가공 및 단면 제작 과정에서 높은 재현성을 제공합니다.
미세 패턴 가공, 시료 절단 및 단면 가공을 나노미터 수준으로 수행할 수 있습니다. 반도체, 전자소자 및 첨단 소재 분석에 적합합니다.
➡️ 빠르고 압도적인 분석 처리량
기존 대비 짧은 시간 안에 필요한 분석 데이터 획득 가능
➡️ 뛰어난 정밀도와 해상도
낮은 가속 전압 및 높은 배율에서도 정밀하고 해상도 높은 데이터 획득 가능
➡️ ESPRIT Software 기반 미세 구조 및 상 분석
Feature 기능 탑재로 입자 및 상에 대한 자동화 분석 가능
ESPRIT Automated Software 주요 기능
✅ 형상 정보 획득 — 입자 형태·크기·분포·개수
✅ 화학적 정보 획득 — 원소 조성·상·원소 분포 매핑
✅ 통계적 분석 — 스테이지 연동을 통한 대면적 분석 및 통계 처리
✅ 자동화된 워크플로우 — Recipe 저장으로 반복 분석 및 분석 시간 단축
GSEM 시험분석센터 FIB분석 안내
FIB 분석, 이런 게 궁금할 때 찾아주세요.
TIP* FIB, 이온밀링과 무엇이 다를까요?
쉽게 말해, 넓은 면적은 이온 밀링, "딱 이 지점"을 봐야 할때는 FIB가 적합합니다.
[분석 종류]
01. "원하는 지점의 단면, 계면까지 선명하게 볼 수 있을까?"
[단면가공 · 관찰]
SEM으로 위치를 찾은 뒤 그 지점만 정밀하게 깎아 내부 단면을 보여드립니다. 큰 전류로 빠르게 깎고 작은 전류로 표면을 다듬어, 다층 구조나 이종 접합 계면까지 선명하게 드러냅니다.
이런 걸 알 수 있어요
● 층별 두께와 내부 구조
● 계면 상태 (들뜸, 박리)
● 보이드, 크랙 등 내부 결함
이렇게 보여드려요.
02. "금속의 결정립 모양을 바로 확인할수 있을까?"
[채널링 콘트라스트(Channeling Contrast) 관찰]
금속은 결정 방향에 따라 이온 빔에 반응하는 정도가 달라서 결정립마다 밝기가 다르게 나타납니다. 별도의 에칭 없이도 결정립 형태와 분포를 확인할 수 있습니다.
이런 걸 알 수 있어요
● 결정립 모양과 크기
● 단면 방향의 결정립 분포
● 가공·열처리에 따른 조직 변화
이렇게 보여드려요.
03. "TEM으로 원자 배열까지 보고 싶다면?"
[TEM 박면(Lamella) 제작]
TEM으로 관찰하려면 전자가 통과할 만큼 아주 얇은 시료가 필요합니다. DB550은 원하는 위치에서 박편을 잘라내고, 장비 안에 내장된 나노 매니퓰레이터로 옮겨 최종 두께까지 가공합니다.
이런 걸 알 수 있어요
● 원하는 위치에서 정확히 채취한 TEM 시료
● 원자 배열·격자 구조 관찰용 박편 (STEM-HAADF 등)
이렇게 보여드려요.
관찰 결과
04. "연구에 필요한 미세 구조물을 직접 만들 수 있을까?"
[맞춤 나노 가공]
이온 식각과 Pt 증착을 이용해 원하는 모양의 미세 구조물을 제작합니다. 이미지(비트맵) 파일을 불러와 그대로 패턴을 가공할 수도 있습니다.
이런 걸 알 수 있어요.
● 마이크로 기둥(Micropillar): 미세 기계적 특성 시험(in-situ)용
● APT 시료: 3차원 원자 단위 성분 분석용
● 맞춤 패턴: 이온 식각, Pt 증착
이렇게 보여드려요.
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