시험분석센터 소개

DB550

전자현미경

전자현미경 DB550

(Brand : -)

Electron Gun Type
High Brightness Schottky Field Emission
Resolution
0.9nm @ 15kV (SE)
Acceleration Voltage
20V ~ 30kV
Ion Source Type
Liquid Gallium Ion Source
Resolution
3.0nm @ 30kV (SE)
Acceleration Voltage
500V ~ 30kV

주요장점

FE-SEM + FIB 통합 시스템
(분해능 : 0.9nm at 15kV)

고해상도 전계방출 주사전자현미경(FE-SEM)과 FIB를 하나의 시스템으로 통합하여 관찰과 가공을 동시에 수행할 수 있습니다.  0.9nm급 분해능으로 미세 구조를 정밀하게 분석합니다.

안정적인 Ga⁺ 이온 빔 소스

고안정성 Gallium 이온 소스를 적용하여 장시간 작업 시에도 균일한 빔 성능을 유지합니다.  정밀 가공 및 단면 제작 과정에서 높은 재현성을 제공합니다.

정밀 나노 가공 및 단면 제작

미세 패턴 가공, 시료 절단 및 단면 가공을 나노미터 수준으로 수행할 수 있습니다.  반도체, 전자소자 및 첨단 소재 분석에 적합합니다.

BRUKER XFlash 7 EDS

➡️ 빠르고 압도적인 분석 처리량
기존 대비 짧은 시간 안에 필요한 분석 데이터 획득 가능

➡️ 뛰어난 정밀도와 해상도
낮은 가속 전압 및 높은 배율에서도 정밀하고 해상도 높은 데이터 획득 가능

➡️ ESPRIT Software 기반 미세 구조 및 상 분석
Feature 기능 탑재로 입자 및 상에 대한 자동화 분석 가능

 

ESPRIT Automated Software 주요 기능

✅ 형상 정보 획득 — 입자 형태·크기·분포·개수
✅ 화학적 정보 획득 — 원소 조성·상·원소 분포 매핑
✅ 통계적 분석 — 스테이지 연동을 통한 대면적 분석 및 통계 처리
✅ 자동화된 워크플로우 —
Recipe 저장으로 반복 분석 및 분석 시간 단축

GSEM 시험분석센터 FIB분석 안내

 

FIB 분석, 이런 게 궁금할 때 찾아주세요.

 

 

TIP* FIB, 이온밀링과 무엇이 다를까요?

쉽게 말해, 넓은 면적은 이온 밀링, "딱 이 지점"을 봐야 할때는 FIB가 적합합니다.

 

 

[분석 종류]

01. "원하는 지점의 단면, 계면까지 선명하게 볼 수 있을까?"

[단면가공 ·  관찰]

SEM으로 위치를 찾은 뒤 그 지점만 정밀하게 깎아 내부 단면을 보여드립니다. 큰 전류로 빠르게 깎고 작은 전류로 표면을 다듬어, 다층 구조나 이종 접합 계면까지 선명하게 드러냅니다.

 

이런 걸 알 수 있어요

                    ●       층별 두께와 내부 구조

                    ●       계면 상태 (들뜸, 박리)

                    ●      보이드, 크랙 등 내부 결함

 

이렇게 보여드려요.

 

 

 

02. "금속의 결정립 모양을 바로 확인할수 있을까?"

[채널링 콘트라스트(Channeling Contrast) 관찰]

금속은 결정 방향에 따라 이온 빔에 반응하는 정도가 달라서 결정립마다 밝기가 다르게 나타납니다. 별도의 에칭 없이도 결정립 형태와 분포를 확인할 수 있습니다.

 

 

이런 걸 알 수 있어요

                    ●      결정립 모양과 크기

                    ●      단면 방향의 결정립 분포

                    ●      가공·열처리에 따른 조직 변화

 

이렇게 보여드려요.

 

 

 

 

03. "TEM으로 원자 배열까지 보고 싶다면?"

[TEM 박면(Lamella) 제작]

TEM으로 관찰하려면 전자가 통과할 만큼 아주 얇은 시료가 필요합니다. DB550은 원하는 위치에서 박편을 잘라내고, 장비 안에 내장된 나노 매니퓰레이터로 옮겨 최종 두께까지 가공합니다.

 

이런 걸 알 수 있어요

                ●     원하는 위치에서 정확히 채취한 TEM 시료

                ●     원자 배열·격자 구조 관찰용 박편 (STEM-HAADF 등)

 

이렇게 보여드려요.

 

관찰 결과

 

 

 

04. "연구에 필요한 미세 구조물을 직접 만들 수 있을까?"

[맞춤 나노 가공]

이온 식각과 Pt 증착을 이용해 원하는 모양의 미세 구조물을 제작합니다. 이미지(비트맵) 파일을 불러와 그대로 패턴을 가공할 수도 있습니다.

 

이런 걸 알 수 있어요.

                ●     마이크로 기둥(Micropillar): 미세 기계적 특성 시험(in-situ)용

                ●     APT 시료: 3차원 원자 단위 성분 분석용

                ●     맞춤 패턴: 이온 식각, Pt 증착

 

이렇게 보여드려요.

 

 

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제2조 (서비스 내용)
회사는 SEM, FIB, TEM 등 시험분석 서비스와 관련된 정보 제공, 분석 의뢰 접수, 분석 결과 안내 및 기타 부가 서비스를 제공합니다.

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이용자는 회사가 정한 절차에 따라 분석을 신청할 수 있으며, 신청 내용은 담당자의 검토 후 접수됩니다.

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